探针座作为探针台的主题部件,重要用处是衔接探针和线缆,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通前提,从调节精度上来分辨可分为10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,从操作方式来分辨可分为手动和电动,此表凭据利用场景的分歧又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等,宽泛利用于半导体及光电行业的电学参数测试。
通用型探针座,探针夹具设计更为通用,合用于多种尺度化测试工作。如测试样品电极散布较为规整,无需特殊角度扎针测试,可优先选择通用型探针座
● 主体材质选取进口航空铝,表表喷砂氧化,优质的机械机能;
● 选取进口交叉滚珠导轨,超高不变性;
● 选取进口高分辨率微分头驱动,提高整体位移精度;
● 多职能调节夹具,能够实现180°旋转及60°定向倾斜调节;
● 合用于在显微镜下定向调节探针,不故障遮挡;
● 底部超强可调磁性底座,磁性吸附可达10Kg,保障针的不变性;
● 可选配升级真空吸附,搭配7L/min真空泵。

合用于R/F丈量I/O点丈量直流DC测试晶圆测试电阻电压测试太阳能电池测试光电流测试半导体器件分析测试
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