探针台又称探针测试台，重要用处是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，共同丈量仪器可实现集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压个性曲线等参数检测。合用于对资料、芯片等进行科研尝试分析，抽查测试蹬酌途。

KETF系列电学测试夹具是用于MOS管的接线测试，与Keithley2600系列源表配套使用，改进了LO端和HI端接口不一致问题。该系列夹具由我司自研出产，一端选取美国原装插排，另一端是LO和HI的尺度三同轴接口，可与我司探针台三轴公头线缆直接衔接，增长LO短接跳线,能够方便的将双通路的两个LO极短接在一路，提高测试精度，是一款方便好用的测试辅件。

技术优势：

通例选型：

器件介绍：

KEITHLEY 2600系列源表后面是插排接口，若直接测试会降低测试精度，我司该系列三轴衔接器能够齐全匹配该系列源表，增长LO端短接跳线,能够方便的将双通路的两个LO极短接在一路， 用于MOSFET等三端器件的接线测试，提高测试精度！

利用领域：

半导体资料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、丈量表表电阻率测试、精密仪器出产检测、航空航天尝试等。

bifa必发集团光电可凭据客户现实利用需要，定造配套探针台系统，以达更好的测试成效及更高的性价比，具体信息可联系详询。

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