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恒温(加热)测试探针台

LVHT系列恒温加热探针台是我司凭据高 ?蒲屑安笛蟹⒈匾 ,而特定设计的一款高精密控温探针台 ,系吐浣全位移调节精度及控温精度 ,实现丈量芯片在分歧温度下的电学机能变动 ,宽泛利用于光电半导体等有关领域。

产品介绍

  探针台又称探针测试台 ,重要用处是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台 ,探针台可吸附多种规格芯片 ,并提供多个可调测试针以及探针座 ,共同丈量仪器可实现集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压个性曲线等参数检测。合用于对资料、芯片等进行科研尝试分析 ,抽查测试蹬酌途。该探针台系统蕴含隔振底板、探针架、高精度探针定位器、恒温样品台、显微成像 ?榈。

  LVHT系列恒温加热探针台是我司凭据高 ?蒲屑安笛蟹⒈匾 ,而特定设计的一款高精密控温探针台 ,系吐浣全位移调节精度及控温精度 ,实现丈量芯片在分歧温度下的电学机能变动 ,宽泛利用于光电半导体等有关领域。

技术优势:

  •  ?榛杓 ,能够搭配分歧构件实现分歧测试

  • 最大可用于12英寸以内样品测试

  • 探针台整体位移精度高达3μm ,样品台精密四维调节

  • 兼容多种光学显微镜 ,可表引光路实现光电mapping测试

  • PID控温 ,可加热至300°C ,精度±0.1°C ,均匀性±5°C;

  • 满足1μm以上电极/PAD使用

  • 漏电精度可达10pA/100fA(屏蔽箱内)

  • 探针座选取进口交叉滚珠导轨 ,线性移动 ,无回程差设计

  • 加宽探针搁置架 ,可搁置6个DC探针座/4个RF探针座

  • 显微镜可二维精密调节 ,且可选配多种行程及驱动方式

  • 资料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等

细节展示:

恒温加热探针台?榻樯.jpg

具体 ?榕渲眉安问⒚鳎


名称型号单元数量参数
探针台合体MPTN-RH1
  • 底部橡胶隔振面包板 ,带橡胶隔振地脚 ,有效断绝Z轴微振;

  • 三维调节样品架 ,XY轴行程110mm ,Z轴行程10mm ,整体分辨率3μm ,360°粗调 ,±5°精调;

  • 双方龙门架结构 ,尺寸: 300mm*150mm*190mm;

探针座TPLS-UP选配
  • 三维调节 ,整体调节精度3μm(可选配05μm ,1μm);

  • 丈量领域:10pA/100fA(屏蔽箱环境)-10A;

  • 行程:XYZ行程别离13mm;

  • 固定方式:可调磁吸吸附;

  • 探针夹持角度:偏摆60°;

  • 配置线缆:同轴线缆(漏电精度10pA)/三同轴线缆(漏电精度100fA)。

显微成像 ?ST611
  • 放大倍数:402-270倍;

  • 图像传感器:2000万像素 ,支持电脑节造 ,拍照录像 ,HDMI输出;

  • 中心距离:140mm ,总高:350mm ,起落领域270mm;

  • 目镜:选取高眼点超广角目镜 ,视场φ23mm;

  • 表置高亮无极调节亮度环形LED光源;

  • 配置显微镜万向支架;

  • 配置高清显示器及显示器万向支架;

  • 可选配XY二维调节装置 ,行程25*25mm ,分辨率3um;

  • 可据需要选配如电子显微镜、高分辨金相显微镜等。

真空吸附卡盘PSL311
  • 台面尺寸:4/6/8/12英寸可选 ,有镀金、铝合金、紫铜材质;

  • 4英寸3个吸附孔 ,6/8英寸4个吸附孔 ,12英寸5个吸附孔;

  • PID控温 ,可加热至300℃ ,控温精度±0.1℃;

  • 有效区域温度均匀性±5℃;

  • 标配进口无油真空泵 ,吐出空气量7L/min,持久不变运行;

  • 搭配聚四氟材质旋转可锁紧装置 ,分离锁紧 ,360°旋转;

  • 背电极设计 ,可引出背电极;

  • 吸附孔独立圆槽设计 ,加强吸附能力 ,绝缘电学分离处置;

  • 单独吸附孔路 ,独立真空吸附开关;真空吸附套装附件。

探针S0011
  • 钨钢探针:长38mm ,直径05mm ,可测电流领域 ,1fA-1A ,针尖直径可。1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);

  • 钨钢镀金探针:长38mm ,直径05mm ,可测电流领域 ,1fA-1A ,针尖直径可。1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);

  • 镀金软针:长51mm ,可测电流领域 ,1fA-1A ,针尖直径可。5/10/30/50/125μm)。

通例选型:

产品型号样品台尺寸温度领域样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度
LVHT-044英寸~300℃3μm3μm100fA
LVHT-066英寸~300℃3μm3μm100fA
LVHT-088英寸~300℃3μm3μm100fA
LVHT-1212英寸~300℃3μm3μm100fA


尝试附件及通例测试步骤:

光学隔振平台(台面>600mm*600mm)、一台推算机(尺度VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表(含软件)等。

测试时衔接探针台和数字源表 ,探针接被测物体 ,通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表表 ,待衔接导通后打开源表软件 ,选好参数即可出该触点的I-V机能曲线。

利用领域:

半导体资料测试   功率器件测试   MEMS测试   PCB测试   液晶面板测试   丈量表表电阻率   精密仪器出产检测   航空航天尝试

bifa必发集团光电可凭据客户现实利用需要 ,定造配套探针台系统 ,以达更好的测试成效及更高的性价比 ,具体信息可联系详询。

还可点击 bifa必发集团商城:恒温(加热)测试探针台 ,查看更多产品信息

标签: 探针台

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